Publikationen von M. Grundner

Grundner, M.; Heiland, W.; Taglauer, E.: Direct Comparison of Ion Scattering and Secondary Ion Emission as Tools for Analysis of Metal Surfaces. Applied Physics 4, S. 243 - 248 (1974)

Grundner, M.; Heiland, W.; Taglauer, E.: Die Erprobung einer Ionenquelle für Untersuchungen von festkörperoberflächen im Energiebereich von 100 eV bis 1,5 KeV. Max-Planck-Institut für Plasmaphysik, Garching (1973)